通过实验，验证了当部分应用程序内容被修改时，Bootloader可以正常进入运行模式，在放置的跳转指针尝试至应用程序函数入口地址时，程序可以跳转至非法读取程序执行读取命令，得到Bootloader程序和被部分修改的应用程序代码。复制到新的芯片中后运行启动Bootloader升级模式，将升级程序下载升级程序包覆盖应用程序区域，就得到了完整的Bootloader程序和应用程序代码。

3 双重完整性检验安全方案设计与验证
    实际应用中，Bootloader引导应用程序结构的软件在STM32F103RB芯片上使用时，厂商可以通过改进Boot-loader的设计，最大程度地避免这种篡改应用程序方式带来的代码被抄袭的风险。由于芯片读保护有效时，前3片区的自动写保护可以保证中断向量表不被篡改，从而Bootloader在Flash地址启动时首先执行。
    在更新应用程序的过程中，除了升级程序包采用加密、方式由Bootloader在升级模式下将内容解密后写入应用程序区域外，Bootloader运行模式下确认Flash中的内容为完整的合法程序和阻止非法程序的运行是安全设计方案的出发点。下面介绍的是采用双重完整性检验的方案提高代码安全性的方法：
    ①由于STM32F103RB芯片的Falsh的写操作需要对片区擦除后进行，可以在各片区的特定地址内依次放置厂商设定的1～2字节伪随机码，组成密码序列。在非法读取程序或跳转指针写入时，对片区擦除过程将破坏伪随机码而不能重新写回，导致密码序列的破坏。
    ②CRC检验是较为常见的一种数据传输检错方式，随着技术的发展，已经出现了能够适用于嵌入式系统有限资源的快速算法。将应用程序代码区域的CRC检验值在升级程序时保存在Flash中的约定位置。对应用程序代码的非法修改将使CRC检验值改变。
    加入了双重完整性检验方案的Bootloader功能模块流程如图4所示。

    方案的设计可以使芯片上电复位后，自Flash起始地址运行的Bootloader及时发现篡改攻击造成的改变，并防止非法代码得到执行机会。在安全设计方案验证实验中，设计Bootloader在运行模式下验证密码序列的完整性，并将应用程序区域的CRC检验值与保存在约定位置中初始检验值比较，从而验证Flash内容未被篡改。在验证失败时，输出验证失败信息和当前的CRC检验值后进入死循环，而不再启动应用程序。
    对方案的验证实验采用在应用程序片区的末尾写入伪随机码序列和32位CRC检验算法，依次对Flash的4～128 片区单独进行擦除后写入非法代码进行验证，均得到图5所示的验证失败信息。

    实际测试中，对不同片区的篡改操作得到不同的CRC检验值与合法应用程序CRC检验值互不相同。双重完整性检验方案在STM32F103RB芯片上运行带来的时间开销约为80ms，也能够被产品启动过程所接受。在厂商进行产品开发时，可以进一步设计Bootloader验证失败时进入自毁程序，通过修改读保护状态使芯片被整片擦除，从而销毁所有代码，提高代码的安全性。

结 语
    嵌入式系统是硬件与软件高度结合的技术应用，通过对STM32F103RB芯片上进行Bootloader引导应用程序结构软件开发时的篡改攻击风险验证，可以看到嵌入式产品被抄袭风险的严峻性。在实际应用中，嵌入式系统设计应当结合软件结构的特点和硬件提供的保护特性，灵活使用不同的保护方式，有效地提高程序的安全性，达到最大程度地对厂商代码和知识产权的保护。