耦合故障是一个单元的逻辑值受另一个单元的影响。包括：①CFin故障（inversion Coupling Fault）是指单元i翻转会导致单元j翻转；②CFid故障(idempotent Coupling Fault)是指单元i翻转会导致单元j的逻辑值为某个定值（0或1）；③CFst故障（state Coupling Fault）是指单元i赋值为某个定值时，会导致单元j的逻辑值为某个定值（0或1）。耦合故障列表如表2所示。

2 基于字的行进算法

2.1 基于比特的行进与基于字的行进

    基于比特的行进会遍历所有的比特单元，而基于字的行进则是遍历所有的字单元。对于N比特的存储器，两种行进方式的差异如表3所示。

目前大多数存储器读写操作是基于字的。对于N比特存储器，如果一个字为u比特，则对于相同的行进序列，基于字的行进与基于比特的行进相比，测试时间减少到原来的1/u；基于字的行进测试缺点在于故障检测率会下降，需要更多的测试向量字来提高故障检测率。

2.2 字中耦合故障和字间耦合故障

    耦合故障分为字中耦合和字间耦合两种情况，如图2所示。字中耦合故障是指同一个字内的两个比特i和j，比特i的状态变化或操作会引起比特j逻辑值故障；字间耦合故障是指比特i和j分别处于两个不同的字中，比特i的状态变化或操作会引起比特j逻辑值故障。

 由图2可以看出，如果M可以检测出所有的CF故障，则MP0可以检测出所有的字间耦合故障，但通常只能测出一部分字中耦合故障。

2.3 基于字的故障检测

    为了能够检测出所有的SAF、TF、AF、SOF、CF故障，考虑以字为基本检测单元，采用下面的行进序列进行故障检测：

其中：

    存储器共N比特，每个字为u比特，u=2v。