磁芯损耗测试设备

　　测试电感性能的最有效方法就是将被测试电感放置在最终开关电源电路上,然后对此电路的效率进行测量。但是,这种测试方法需要有最终电路,不易采用。现在,有一种相对简单的测试方法,可以在设计开关电源前对电感的磁芯损耗进行测试(在其设定的开关频点上)。首先,将磁芯串连放置在低损耗电容介质上(比如镀银云母)。然后,用一系列共振模驱动。其中介质的电容值需要与被测电感的开关频率一致。最后采用网络分析仪来完成整个测试过程(信号发生器加上一个射频伏特计或者功率计也可以完成测试)。测试设备的结构如图2所示。

图2  测试测试剖面图

　　在谐振点,低损耗的磁芯可以看成L-C共振回路。此时损耗可以等效为一个纯阻元件(包括线圈损耗和磁芯损耗)。在上面的测试设备中,端子A和R都连接着50Ω电阻。此设备的开路(不包括电感)等效为150Ω负载的振荡器。在网络分析仪上可以表示为：
　　20×Log(A/R) = 20×Log(50/150) = -9.54 dB

　　在这个测试电路中,谐振电容为2000pF,被测电感大概为2.5mH～2.8mH,测试频率为1kHz。其中,磁性材料的渗透率是一个与频率有关的非线性函数,在更高的频点上,测试结果有可能不同。

　　磁芯损耗实验数据

　　一个相对磁导率为125mr的单层铁镍钼薄片磁芯,外围缠绕10/44的多芯电线16匝,另一个双层250掺杂度的镍铁钼磁粉芯,外围缠绕10/44的多芯电线8匝。电感量测试值分别为2.75mHy 和 2.78mHy。第一个电感虽然是16匝,但是横截面积是第二个电感的一半。在相同振幅信号的驱动下,这两个电感的损耗都很高。等效电阻分别为360Ω 和300Ω。相对的,另一个电感(2.5mHy)采用Micrometals公司的非常低的掺杂材料(羰基T25-6  ,相对磁导率为 8.5)。10/44多芯电线34匝。在同样的驱动信号下,他的等效损耗电阻为22000Ω。

　　结语

　　对于低功耗开关电源的电感选取有许多特殊注意之处。对于低功耗、高效率的开关电源设计,一般的器件资料或者选型表提供的参数是远远不够的。通常的电感都是铁氧体磁芯(非低损耗材料),必将逐步在低功率、高效率的应用中淘汰。一种相对简单的电感损耗测试设备可以在设计的频点测试电感的损耗,对比不同电感的性能。

　　当设计需要选取低损耗电感时,应选取低掺杂度材料来获得低的磁场强度参数-B。并选择低损耗的磁芯或考虑采用多芯电线。并且,最好采用芯片公司推荐的磁性元件,或者向专业的磁材料专家请教,以便能够满足特定的需求。