状态设计是根据被测对象的运动规律确定存储测试系统状态组织结构的过程。它是实现功能设计的关键，是硬件设计的依据，也是建立基型存储测试系统的有效手段。状态设计可以使设计思想清晰地贯穿于设计和调试的始终，可以不同程度的简化原本复杂的设计过程。
    系统的状态转换：系统接通电源后，单片机处于知更状态，等待采样开始信号，此时系统处于超低功耗状态，消耗的电流仅约1μA。触发信号到来后，系统开始循环采样，采样完毕，存储器计满数据后，就停止采样进入低功耗的等待读数状态。在等待读数状态时，接读数端口，当单片机的I/O端口接收到计算机发送的上升沿后，就开始向计算机发送数据，即先从存储器中将数据读人单片机，然后再由单片机的串口发送给计算机，发送完毕后再次进入低功耗状态。图3是系统状态图。

5 测试结果
    系统测试实验由信号发生器给出频率为1 Hz的正弦波，数据采集完毕后读数情况如图4所示。系统完全实现触发和采样过程。图4是通过实验得到的单通道测试波形图，得到的输出与所给的输入信号完全一致，充分说明此方案是可行的。

6 结束语
    采用MSP430系列单片机设计测试系统，利用MSP430系列单片机内部提供的12 bit的A／D转换器进行数据采集，这种方式大大简化电路设计，并能使测量结果达到较高精度；而且由于MSP430系列单片机超低功耗的设计，使测试系统具有体积小，低功耗，抗干扰能力强，无引线等特点。