后驱动分2种情况：将逻辑高电平强置为低电平和将逻辑低电平强置为高电平。这2种情况都会因后驱动电流的产生而使器件输出部分PN结的温度升高。过高的温度会使PN结损坏或是熔断基线。由于器件构造的原因，前一种情况中流经输出部分的后驱动电流会受到限制。后一种情况由于不受限，流过电流较大，对器件的危害性也较大。但电流并不是造成升温的充分条件，还要看它作用的时间，即后驱动脉冲信号周期。在充分小的周期内，后驱动电流是不会造成较大的升温的，也不会对器件造成破坏。
    为了满足TTL和CMOS电路的测试阈值要求。阈值是对测试时高电平和低电平的规定，分为“紧”和“松”两类。紧阈值是器件严格测试时遵循的标准，松阈值是对器件测试要求不高时遵循的标准。如表1所示。

文献给出了关于TTL电路进行后驱动典型电流一电压关系特性曲线，如图3所示。

 文献对电路在线测试采用后驱动技术时的电流及测试时间也做了严格的规定。规定管脚驱动器的吸收／输出电流不大于750 mA，作用时间不超过65 ms。
    目前，国内外基于后驱动技术的在线测试仪的电流设定在500 mA以内，测试时间在16 ms以内，确保在线测试时仪器的安全。

3 后驱动技术的应用
    后驱动技术的发展，促进了测试技术和仪器的发展，开辟了现代电子测试维修的新途径，改变了传统的装备测试维修方法。后驱动技术的具体应用就是电路在线测试仪。其原理如图4所示，测试仪以测试程序库为基础，瞬间强制性地在被测器件的输入端施加驱动信号，测试其实际输出信号，并与标准代码进行比较，结果一致时，则认为被测器件功能正常，结果不一致时，则认为被测器件功能异常。

基于后驱动技术的测试仪具有强大的测试库，能够测试多种器件。包括TTL75／54，CMOS40／45，各种驱动器、俄罗斯器件库、各种 RAM／EPPROM、PLD、集成运放、比较器、稳压器件等。利用在线测试仪不仅可以实现器件的功能测试，还可以进行器件的VI特性曲线测试、型号识别，存储器测试，电路板网络图提取等工作。

4 结 语
    实践证明，基于后驱动技术的在线电路测试仪在民用和军事领域中具有广阔的应用前景。可以大大缩短装备故障测试和维修的时问、快速恢复武器装备的战斗力、提高工作效率、节省维修开支。若要对电子器件进行更深层次的测试，需要在现有的技术基础上，完善测试仪的测试库，提高测试速度和精度，增加多电压输出以支持更多器件的测试。这也是在线测试仪的下一步发展方向。