泰克TDS6154C高速实时示波器采用硅锗（SiGe）半导体集成采集前端，并使用独立的高速存储器，这样就不受内存长度的限制，并且它同时支持最大采样率和存储长度。

     4. 抖动、噪声和BER测试和分析

      针对FPGA中不断增长的串行数据传输速率，设计人员不仅进行眼图测试，还需要一套先进的测试和分析工具帮助他们更好地理解和改善他们设计方案的信号完整性。
   
      针对FPGA提供的各种高速串行信号，传统的采样示波器配合抖动分析软件针对FPGA中的高速串行信号能够进行抖动的测试，测试结果的分离，后期的抖动原因的定位和分析，以及水平时间分量上的BER分析。但是，对于导致BER的另一个主要原因，即串行信号中的噪声分量，没有一个彻底的测试和分析方法。图4显示了对于一个高速串行信号的抖动分量和噪声分量影响BER的过程。
 

图4 抖动分量和噪声分量的分解

   
      从事FPGA器件的设计和应用，以及背板的设计和制造的公司在开发基于超高速串行数据标准的产品时需要最高精度的抖动分析，噪声分析以及完整的BER眼图信息。泰克CSA/TDS8200系列采样示波器 （Sampling Oscilloscope）测试眼图时，除了传统的眼图和抖动测试外，泰克80SJNB抖动和噪声分析软件提供了对于设计人员和调试人员更有价值的抖动、噪声、BER分析功能。
     
      80SJNB不仅能够得到高精度的眼图测试结果，还能够通过分隔抖动和噪声，加快了识别水平和垂直眼图闭合原因的速度。由于它能够以独特的视角查看抖动和噪声的构成成分，80SJNB可以高度精确全面地推断BER及分析眼图轮廓。在把抖动、噪声和BER分析与8000系列的模块化灵活性、完善的性能和信号保真度结合在一起时，您可以获得理想的下一代高速串行数据设计检验和一致性测试解决方案。下表列出了80SJNB软件配合泰克CSA/TDS8200系列示波器得到的抖动和噪声分析结果。