图4 电阻测量模块电路

　　加热模块电路

　　采用稳压PWM和光耦合技术来控制加热速度，使待测电阻材料在合适的时间内加热到预定温度范围。加热速度控制在20到30分钟内上升100摄氏度是合适的。在其他特殊情况下，也可以通过PWM来调节加热速度加热电路示于图5。

　　                             图5 加热电路设计

　　软件设计

　　主程序设计

　　由于处理器速度较快,所以采用c语言编程方便简单。软件流程图示于图6、图7和图8。

　                                 　图6 主程序流程图

　　                  图7 18b20测温程序流程图

　　                 图8 电阻测量程序流程图

　　系统测试

　　测试工具：标准热敏电阻

　　测试方法：利用本系统测得标准热敏电阻材料的热敏特性曲线。与标准热敏电阻的标准特性曲线进行比较。实验表明，在一定温度范围内，半导体材料的电阻RT和绝对温度T的关系可表示为，两边取自然对数、得到：ln RT=b/T+C。若以自变量1/t为横坐标，ln RT为纵坐标，则上式图象基本是一直线。得到特性图示于图9。

　　由图9可看出，特性曲线基本为直线，由于任何热敏电阻都不可能在大温度范围内保持线性性，在误差允许范围内，系统测试成功。

　　结语

　　由于系统架构设计合理，功能电路实现较好，系统性能优良、稳定，较好地达到了题目要求的各项指标：

　　·可满足热敏电阻特性曲线测试要求;

　　·可实现自动控制与处理，提高实验精度;

　　·安全性能明显提高。