(3)把所有的数据归类到几个独立的“症状”区，每个症状中列出可以解释该故障向量的嫌疑类型。Yiel—dAssist将嫌疑类型进行分级，给出每个症状中每个嫌疑的分值，这样对故障嫌疑进行分级。分值表明了故障嫌疑与在测试机上观察的结果的相似度。

4 一种基于扫描的全速诊断技术
    全速测试是当今电子设计的要求，芯片时钟速度的不断提升和几何面积的不断减小，不可避免地导致芯片与时钟速度相关缺陷的增加。目前主要的ATPG工具都支持基于扫描的全速测试。最常见的针对制造缺陷和处理过程不稳定的检查的全速测试，包括了针对跳变延时故障和路径延时故障模型的测试向量生成。但是，在出现故障现象的全速测试向量中挑拣出故障路径是很消耗时间的，所以业界越来越期待运用自动诊断技术来确定故障路径并找出问题的根本原因。
    通常情况下，运行一段给定电压给定温度下的测试向量，就能找出最大的通过速度Tmax。在早期阶段，Tmax小于指定电路速度Fmax的现象是很普遍的。当Tmax远远小于Fmax时，需要找出是哪条路径发生故障以及故障的原因。假设测试向量在芯片上以tmax运行，此处 Tmax<tmaxFmax，根据Tmax的定义可知，在tmax的时钟下，将会有一个或者多个故障路径。
    根据上述理论，为了确定在tmax下的故障路径，只需载入所有的测试向量，扫描锁存器观察故障值，就可以得到一个完整的路径集合。因为这些路径的有效运行时钟比设定的速度低，所以设计者可以观察这些路径是否是功能性(即是否完成某逻辑功能)：如果不是功能性的路径，可以修改测试向量使得该路径就不被测试；也可以更新时序例外通路(Timing Exception Paths)，引导ATPG来避免敏化这条通路。如果是功能性的路径，那么在设计或者制造环节进行修正，直至测试向量通过全速测试。Tmax越接近 Fmax，测试的覆盖率越高。基于扫描的全速诊断大致可以分为两部分：由ATE上观察到故障的锁存器找出故障路径；自动化全速诊断。
    由ATE上观察到故障的锁存器中找出故障路径，需要注意以下两点：当时钟速度从Tmax提升到tmax，多时钟故障通路有可能被激活，此时的搜索就不能只假定在一个单故障路径；全速测试的故障有可能是由毛刺引起的，并不是故障路径的每个节点都有跳变，所以搜索不能局限在有跳变的范围内。
    自动化全速诊断可以分为3步：
    (1)对每一个出现故障现象的测试向量(故障向量)，在观测到故障的锁存器中找到所有故障值的所有单跳变错误。
    (2)从所有故障向量中得到候选项之后，找到一个覆盖所有错误向量的最小跳变错误的最小集合。
    (3)为了观察故障路径，对于已经确定的每个跳变错误，图形化展示所有能被故障向量解释的故障路径。这些通路用循迹跟踪法来找到，从错误点反向至在错误点产生跳变的锁存器，然后再前向至结束点。

5 结 语
    介绍了故障诊断的常见方法，重点介绍了基于扫描的故障诊断方法。随着技术的不断发展，对芯片故障诊断的要求也越来越高，基于扫描的集成电路故障诊断算法将是研究和应用的热点。