例一：一台TCL MS28机芯液晶彩电，不开机。
    分析检修：上电后测得电源板输出电压正常，主板上各路供电也正常，但二次开机时主板上的背光开／关信号与屏供电控制信号无变化，由此判断CPU未工作。
    检查CPU的工作条件（供电、复位、晶振）未发现异常，接下来通过ISP升级工具与SecureCRT软件查看该机的开机打印信息。该机的开机打印信息只有5行，如图21所示。

    "BISTO"、 "BIST1”表示该机安装有两块DDR存储器，在主板上的位号分别是U12、U13。其中，U12负责处理开／关机等信息，U13负责图像处理。信息的第2、3行表示两块DDR、存储器的版本检测正常，紧接着检测DDR存储器与主芯片之间的通讯情况，即第4、5行的信息：第一个中括号内部显示主芯片送给DDR存储器的信息，第二个中括号显示的是DDR存储器返回给主芯片的信息。显然，第四行中缺少DDR存储器返回给主芯片的信息，即表明DDR1存储器的输出不正常。怀疑U12虚焊，补焊后开机，故障排除。 

    例二：    例7；一台TCL MS28机芯液晶彩电，不开机。
    分析检修：经查，该机CPU未工作，但CPU的工作条件已具备，按上述方法读取开机打印信息。该机的开机打印信息只有5行，如图27所示。

    第2、3行信息表示对两块DDR存储器的检测均失败，第4、5行信息表示在通讯检测中，两块DDR存储器均未收到主芯片的信息。综合上述信息判断该机主芯片虚焊或损坏。补焊主芯片后无效，更换主芯片后故障排除。
 
    例三：    分析检修：经查，该机CPU未工作，但CPU的工作条件已具备，按上述方法读取开机打印信息。该机的开机打印信息较多，现略去DDR存储器的检测信息，如图30所示。

    图中第1行为引导程序检查，随后显示该机CPU的运行频率与DRAM存储器的容量，这说明对DDR存储器及U--BOOT的检测均已通过。紧接着检测NAND存储器，却显示“unknown FLASH”，表示无法读取FLASH数据，并且打印信息到此停止。
    无法读取FLASH数据的常见原因有：（1）NAND存储器损坏，（2）NAND存储器内部数据丢失，（3）主芯片损坏。对彩电重新升级后故障依旧，代换NAND存储器并进行数据升级后故障排除。
    提示：如果液晶彩电的开机打印信息能全部显示，或者显示中未提示异常，但仍然二次不开机，则故障原因多是NAND FLASH中软件或者MBOOT软件不良，可重新抄写试机进行判断。

     例四：    分析检修：经查，该机CPU未工作，但CPU的工作条件已具备，按上述方法读取开机打印信息。该机的开机打印信息只有5行，如图24所示。

    “BISTO-FAIL”表示DDR1存储器检测失败，即DDR1存储器没有正常工作。在第4、5行的通讯检测中，DDR1存储器的输入、输出信息均没有，这说明主芯片可能虚焊或损坏，补焊主芯片后试机，故障排除。