(2)对1／f噪声的影响

　　CHS的斩波调制技术对AMP1／f噪声的影响，也可以通过相似的分析得到，假定fc》fchop，图7给出了斩波输出1／f噪声PSD结果，1／f噪声的极点位置远离了基带，被搬移到了斩波频率的奇数次谐波处。在基带内1／f噪声的PSD可以近似为一白噪声分量：

　　3.3.3 存在的缺陷

　　虽然斩波技术(CHS)对降低AMP噪声和失调是十分有效的，但也存在一些缺陷。最大的不足是输出仍会存在一定的残余失调，如果调制解调器是由MOS开关构成，则非理想特性主要包括时钟溃通、电荷注入。通常的解决办法是用CMOS开关来取代MOS开关，让相反的电荷量由两个沟道相互注入，以减小单沟道MOS开关的非线性效应。但是PMOS器件和NMOS器件的沟道电荷很难完全匹配，该方法不只能减少放大器的残余失调，但不能完全消除。

　　4 精密运放未来的发展空间

　　在未来的几十年内，应汽车、智能系统、生产线上的性能监视子系统的需要，具有低失调、低噪声特性的精密放大器将更为广泛应用于传感器监视，为精密运放的发展注入新的活力的同时，也给设计师和芯片制造商提出了更高的要求。更低的噪声、更小的失调，更小的温度系数和更高的性价比，将成为下一代精密运放设计的焦点。电路构架、制造工艺和封装技术的不断发展和微调技术的不断创新，将为下一代精密运放的发展提供可靠的支撑，高精度运放将在工业自动化、医疗器材、量测仪器、汽车电子、甚至军事国防等不同领域扮演日趋重要的角色。