(2)对1／f噪声的影响

　　对于闪烁噪声(1／f)PSD我们可以通过相似的分析得到，设1／f噪声的转角频率为fk。如图3所示，由于采样函数在DC处引入了零点，1／f噪声被大大削弱。同时，虽然1／f噪声是一窄带过程，但其“尾巴”在采样过程中引入了混叠。在奈奎斯特频率范围内，1／f噪声混叠分量可以近似为：

　　3.1.3 存在的缺陷

　　AZ在消除运放失调的同时，也大大削弱了1／f噪声，但其欠采样过程引入了白噪声和闪烁噪声的频谱混叠，使得在信号频带范围内输出白噪声成份有所增加。同时，1／f噪声的“尾巴”也将在采样过程中导致输出的混叠，加大采样频率可减轻混叠，但与此同时也带来了负面效应，包括时钟溃通(clock feed-through)和沟道电荷注入(channel charge injection)效应。

　　3.2 相关重采样技术(CDS)

　　相关重采样技术可以描述为AZ技术+S／H，他广泛地应用于采样系统和开关电容电路SC(Switched Capacitor Circuits)中。虽然CDS技术对输出信号进行采样／保持，CDS技术对AMP失调和噪声的影响与AZ技术相似。和AZ技术一样，CDS基带传输函数Ho(fTs)同样也在DC处引入一个零点来消除AMP的失调，同时大大削弱1／f噪声分量；另一方面，虽然对于n≠0时的传递函数二者有些不同，但由于宽带噪声被双采样，他们由采样引入的混叠成份是可以比拟的。

　　3.3 斩波稳零技术(CHS)

　　3.3.1 基本原理

　　与AZ技术不同，CHS采用的是调制和解调技术，而不是采样技术。他对信号进行偶数次采样(两次)，而对AMP噪声和失调进行奇数次采样(一次)，噪声和失调被调制到载波的奇数次频率处，而信号被经过偶数次调制，被解调回基带，通过低通滤波，可以将信号提取而将噪声和失调抑制。

　　CHS的原理如图4所示，假定输入信号最高截止频率为斩波频率的一半，则不会产生信号的频谱混叠。信号将被m1(t)调制到其奇数次频率处，经过AMP放大，然后再由m2(t)解调回基带。

3.3.2 对噪声的影响

　　斩波调制技术对AMP噪声的影响可以通过图5来说明，这里VN(t)代表了AMP引入的所有噪声和失调，m1(t)为斩波调制的载波信号。

　　输出信号的PSD可以给定为：

　　经过斩波调制，噪声被搬移至斩波频率的奇数次谐波处。

　　(1)对白噪声的影响

　　假定AMP的截止频率fc为斩波频率的5倍，即fc=5fchop，T为斩波周期。则对于白噪声，在基带内(∣fT∣≤0.5)噪声特性可以用一白噪声的PSD来近似：

　　图6的结果显示了式(4)给定的输出白噪声PSD对输入白噪声PSD归一化的结果，不难看出，输出PSD总是要比输入小。对于较小的∣fcT∣，输出PSD相对于输入被大大削弱，当∣fcT∣>6时，输出PSD逼近输入的90％。