摘要:本文采用FPGA器件EP1C6T144C8芯片代替单片机控制A/D转换芯片ADC0809进行采样控制,整个设计用VHDL语言描述,在QuartusⅡ平台下进行软件编程实现正确的A/D转换的工作时序控制过程,并将采样数据从二进制转化成BCD码。本设计可用于高速应用领域和实时监控方面。
关键词:FPGA;A/D转换;VHDL;采样控制;BCD码
在以往的A/D器件采样控制设计中,多数是以单片机或CPU为控制核心,虽然编程简单,控制灵活,但缺点是控制周期长,速度慢。单片机的速度极大的限制了A/D高速性能的利用,而FPGA的时钟频率可高达100MHz以上。本设计以高集成度的芯片为核心,进行时序控制、码制变换。具有开发周期短,灵活性强,通用能力好,易于开发、扩展等优点。既降低了设计难度,又加快了产品的开发周期。
1 系统设计原理
本设计采用FPGA芯片EP1C6T144C8来对ADC0809进行采样控制,并对数据进行处理,可将数据用LED显示出来。如图1所示,芯片EP1C6T144C8在对ADC0809控制时产生START转换启动信号,ALE地址锁存允许信号(高电平有效),在工作过程中,FPGA不断读入转换结束信号EOC判断AD0809转换是否结束。当EOC发出一个正脉冲时,表示A/D转换结束,此时开启输出允许OE,打开ADC0809的三态缓冲锁存器将转换好的8位二进制数输入FPGA芯片中。通过查找表的方法将8位二进制数转换成12位BCD码。
图1 控制原理图
2 FPGA模块设计与仿真
本设计采用QuartusⅡ软件平台下的VHDL硬件描述语言进行软件编程。主要分为两个部分:ADC0809的工作状态模块和二进制到BCD码转换模块。
2.1 ADC0809工作状态模块
采用双进程有限状态机的方法来实现。设计st0~st7八个工作状态。st0:初始化。st1:产生ALE的上升沿将模拟通道IN1的地址锁存。st2:产生START信号上升沿,启动A/D转换。st3:START信号延时一个脉冲。st4:A/D转换中,等待。st5:转换结束,开启输出允许信号OE。st6:OE延时一个脉冲,并开启数据锁存信号LOCK。st7:延时一个时钟,输出数据。状态转换方式见下面程序段。
case current_state is
when st0=> ale<='0';start<='0';oe<='0';lock<='0'; next_state<=st1;
---初始态ST0向下一状态ST1转换,0809采样控制信号初始化;
when st1=> ale<='1';start<='0';oe<='0';lock<='0'; next_state<=st2;
---由ALE的上升沿将通道地址'001'锁入0809的地址寄存器;
when st2=> ale<='1';start<='1';oe<='0';lock<='0'; next_state<=st3; ---启动采样信号;
when st3=> ale<='0';start<='1';oe<='0';lock<='0';
if(eoc='0') then next_state<=st4; ---转换即将结束,转换至下一状态;
else next_state<=st3; ---转换未结束,继续在状态ST3中等待;
end if;
when st4=> ale<='0';start<='0';oe<='0';lock<='0';
if(eoc='1') then next_state<=st5; ---EOC由0恢复1,转换结束;
else next_state<=st4; ---转换未结束,等待;
end if;
when st5=> ale<='0';start<='0';oe<='1';lock<='0'; next_state<=st6; --开启输出允许OE;
when st6=> ale<='0';start<='0';oe<='1';lock<='1'; next_state<=st7; --开启数据锁存LOCK;
when st7=> ale<='0';start<='0';oe<='0';lock<='1'; next_state<=st0;
when others=>next_state<=st0; ---其它状态返回ST0;
end case;
2.2 二进制到BCD码转换模块
本设计模拟量输入范围为0~+5V,用8位二进制数表示其精度为0.02。将ADC0809输出的二进制数划分为高四位与低四位,通过查表分别算出电压值并写出对应的12位BCD码, 将得到的高四位电压与低四位电压值用12位BCD码加法,把12位BCD码分为三组,每组四位,相加从最低4位开始,且每4位相加结果超过10时需作进位动作,最终得到BCD码分别对应高、中、低三位输出显示。