摘要：首先针对高可靠、长寿命电子装备的可靠性评估问题，提出一种新的试验方法——双应力交叉步阶试验。而后在正态分布下，通过理论模型的建立，运用Monte—Carlo仿真对该试验的试验效率问题进行深入研究，分析得出形状参数口、寿命特征参数μ与加速效率指标之间的基本关系。结果表明在实际试验条件下，双应力交叉步降试验与双应力交叉步加试验相比，其试验效率是十分明显的。
关键词：加速寿命试验；双应力交叉步阶；蒙特卡洛仿真；正态分布

0 引 言
    在文献中提出了一种新的双应力加速寿命试验方法——双应力交叉步阶试验，在指数分布形式下对该试验方法的核心思想进行了详细阐述，之后对其统计分析方法进行了研究。但现代电子装备的失效寿命很多情况下服从正态分布，因此，在此分布形式下研究双应力交叉步阶试验具有重要的现实意义。

1 问题描述
    这里将双应力交叉步降加速寿命试验(Double—Crossed Step—down—Stress Accelerated Life Tes—ting，DCSDS—ALT)与双应力交叉步进加速寿命试验(Double—Crossed Step—up—Stress AcceleratedLife Testing，DCSUS—ALT)统称为双应力交叉步阶加速寿命试验(Double—Crossed Step—Stress Accel—erated Lire Testing，DCSS—ALT)。从定义可以看出，双应力交叉步阶试验同样包含两种截尾方式，即定数截尾双应力交叉步阶试验与定时截尾双应力交阶步降试验。
    文献已经对双应力交叉步加试验进行了详细研究，这里就不再赘述，相关知识和结论均可在文献中进行查询。双应力交叉步降试验作为一种新的试验方法，其理论体系还有许多有待完善的地方。在此，首先对双应力交叉步降试验的相关内容进行简单介绍。

2 双应力交叉步降试验方法
2．1 双应力交叉步降试验的实施步骤
    (1)首先确定两个加速应力(分别记为S1，S2)及每个应力所取的应力水平：
   
式中，l和k分别是两个加速应力的水平数；(S10，S2O)为产品的正常应力水平，这样第一应力的第i个水平与第二个应力的第j个水平的搭配(S1i，S2j)称为应力水平组合，简称为水平组合(i，j)(i=1，2，…，l；j=1，2，…，k)。
    (2)从一批产品中随机抽取n个样品，首先放在最高应力水平组合(l，k)下进行定数截尾寿命试验，等到rlk个样品失效时，将其中一个应力(如第一应力)水平降低1级，而另一应力(如第二应力)仍固定在原水平上，对剩余的n—rlk个样品在水平组合(l一1，k)下再进行定数截尾寿命试验，待到r(l-1)k个样品失效时，再将应力水平组合调至(l一1，k一1)，然后对剩下的n—rlk一r(l-1)k个样品在水平组合(l一1，k一1)下继续进行定数截尾寿命试验。如此重复下去，直到在最低应力水平组合(1，1)下有r11个失效为止。
2．2 双应力交叉步降试验的特点
    (1)每步只降低一个应力水平，两个应力水平交叉降低，其水平组合变动的轨迹如图1所示。

    (2)假如两个应力的水平数分别为l和k，显然有|l一k|≤1，于是DCSDS—ALT由h=l+k一1步组成，其h个水平组合全体记为D，即：

   
    其中每一步失效数rij都要事先给定。
    (4)在DCSDS—ALT中，n个样品经过h步应力水平转换，可得到一批失效数据。譬如，在水平组合(i，j)下的失效数据记为：

   
    这些失效时间都是从水平组合(l，k)开始算起到水平组合(i，j)为止。
    (5)DCSDS—ALT较恒加试验所需的试验样品数大大减少，前者最少需要12个，而后者一般至少需要20个。另外，在试验效率上DCSDS—ALT较双应力交叉步加试验也具有较大优势，下面将通过具体的仿真实例给予验证。