串行数据速率的稳步提升，要求严格的标准和更先进的一致性测试解决方案。这需要性能大幅度提高的测试和测量仪器来支持发射机、接收机和信道等方面的测试。为满足这种需求，不仅要求广泛的产品系列，还要求完善的、可扩展的、能够满足当前和未来需求的一致性自动测试软件平台。泰克仪器及其最新推出的TekExpress™一致性自动测试平台可以单键自动进行高速串行数据标准测试，充分满足了这一需求。这也是为进行SATA测试专门设计的。

设计人员面临的一个更大的挑战是进行标准一致性测试。最新标准要求同时控制多台仪器和被测设备；生产效率的市场压力与要求的复杂测量数量迅速增长：SATA Gen-2中要求进行多达150项测试，这意味着自动化和重复测量成为必然。随着标准的不断更新，设计人员必须能够迅速简便地增加和修改测试程序和参数。此外，还需要多次的测试把多台仪器的测试和结果结合起来。

TekExpress提供了一致性测试平台需要的所有要素，包括图形化的用户界面、控制程序库、一致性测试自动脚本、报告生成、仪器自动识别和测试结果数据库管理。泰克选择National Instruments的TestStand测试管理环境执行测试，因为它具有丰富的排序支持，可以接口许多不同的设计环境。TestStand还得到庞大的开发群体的支持，允许TekExpress平台上的客户扩展自己的解决方案，满足特定需要。控制程序库支持ICP (仪器控制代理)、SCP (解决方案控制代理)和ACP (分析控制代理)。

TekExpress一致性自动测试平台的最主要组成部分是用于特定标准的自动测试软件，如SATA Gen-1和SATA Gen-2。新的TekExpress SATA自动一致性测试软件通过直观的用户界面从Windows XP 计算机上进行控制，协调设置和控制序列，迅速高效地提供完整的认证测试结果。在TekExpress SATA中，可以完成全部四个SATA-IO批准的实现方法(MOI)，总测试时间不到3个小时，使一致性测试时间缩短了约70%。



不管是通过LAN、GPIB还是USB连接，该软件都自动(或按需)扫描和检测支持的仪器。除泰克仪器外，其在初期还支持Keithley的RF Switch及Crescent Heart 软件 (CHS)的错帧计数器。(TekVISA™是一种标配软件功能，允许使用仪器上运行的应用软件控制仪器，或者从外部的PC工作站上通过网络连接到仪器上运行应用软件控制仪器.。应用软件包括LabView, Microsoft Excel, C, TekExpress, TestStand, 等等。



一旦设置了测试方案及正确连接DUT，用户只需按“运行（Run）”钮，就可以执行选择的测试套件。它通过帮助菜单提供联机帮助，用户可以直接访问参考信息，如设置图及TekExpress SATA自带的批准的SATA MOI。工程师和测试技术人员可以了解测量原理，更好地理解测试结果。

在测试完成后，用户可以获得HTML版本的测试结果及通过/失败状态和计分卡。然后可以提交这张计分卡，由测试机构在一致性测试会议上进行正式一致性认证。一旦计分卡上的分数100%通过测试，那么底层DUT可以视为满足规范。

对设备的验证，工程师通常会使用不同的工作条件进行几轮单一设备测试，如不同的温度和电源电压。有时这称为四角测试(测试低温-高温和低压-高压)。对四角测试，NI支持广泛的温度舱和电源使用的驱动程序，可以使用NI TestStand控制温度舱，然后在TekExpress一致性自动测试平台上调用命令集和控制API，进行一致性测试。为调节电源电压，可以使用标准NI TestStand序列文件，修改TekExpress内部的电源控制序列。这特别适合已经使用TestStand进行自动测试的公司，允许测试工程师直接在测试序列中使用泰克一致性测试脚本。

通过推出TekExpress一致性自动测试平台及发布为SATA定制的TekExpress SATA自动一致性测试软件选项，泰克延续了其在高速串行测试中的领导地位和专业经验。TekExpress一致性自动测试平台为未来的高速串行数据标准的自动一致性测试解决方案奠定了基础。