如果把网络的输入点和输出点对调，第四种情况就变成了第3种情况。但是在把电路板描述成网络表时，对于输入点和输出点发生何种故障是完全不可知的，所以，第3种情况和第4种情况应该分开来考虑。
    在此把上述故障模型称为故障模型2，其中第1种和第2种情况与故障模型1是等效的，在建模时考虑到网络两端可能发生不同的故障，增加了第3种和第4种情况。
    每个网络的输出结果只能直接反映输出端的故障，如果输入端也存在故障，那么它就可能被忽视。这里把这种现象称为漏判。
    工厂测试的目的是发现故障并进行维修，其流程如图8所示：测试中如发现故障，就要进行维修，修复后再进行验证测试。如果发生了漏判，一次测试不能发现所有故障，则只能在电路板输出端维修完成后，进行验证测试时，才能发现输入端的故障，于是必须再次维修并再次验证测试。这就增加了测试的时间和维修的复杂性。如果能够基于故障模型2找到方法消除漏判，就可以有效提高生产测试的效率。

4 基于故障模型2的测试方案
    故障模型2引入了网络一端开路，一端短路的故障。在测试时采用走步1算法和走步0算法生成测试矩阵，能够同时检测出网络两端的故障，避免发生漏判。
    设网络总数为N，走步1算法的初始测试矢量为1，O，0，…，O(N维)，然后让1顺序移位，构成N行N列的测试矩阵，所以称作走步1算法。走步O算法与走步1算法原理相同，只是走步O算法的初始测试矢量为O，1，1，…，1，然后让O顺序移位。走步1算法和走步0算法生成的测试矩阵，PTV数量都是N。
    表1和表2是走步1算法和走步0算法生成的测试矩阵示例，网络总数为5。

走步1算法生成的测试矩阵能实现对所有W一O短路的完全诊断，每个故障征兆都有惟一的故障成因与之对应，不会发生混迭或混淆；对网络一端W—O短路，一端开路的故障也具有诊断能力。因为STV中“1”的位置是网络的标志，如果发生了W一O短路，可以根据SRV中“1”的位置，分析出哪些网络发生了短路，哪些网络发生了开路，从而避免漏判。例如，用走步1矩阵对表1的5个网络中进行测试，如果网络1的SRV是00000，网络2的SRV是11000，从 11000这个结果，可以分析出网络1和2的输入点必然发生了或短路；但是网络1的SRV不是11000，而是全“O”向量，那么可以判定：网络1的输出点发生了开路，导致输出S—A一0。
    同理，走步O算法生成的测试矩阵能实现对所有W—A短路的完全诊断，对网络一端W—A短路，一端开路的故障具有诊断能力。
    在实际测试时为了同时覆盖W—O短路和W—A短路，要把走步1矩阵和走步O矩阵组合起来使用，如表3示。这样，PTV的数量就是2N。
    走步1矩阵和走步O矩阵构成的组合测试矩阵，只有当全部网络一起发生短路时，其结果才是全“O”SRV或全“1”SRV。而显然这种故障是不可能发生的，因此可以认为全“O”SRV和全“1”SRV不是由短路故障造成的，这样就避免了和开路故障发生混淆。也就是说，用组合矩阵测试时，只要一个网络的输出是全“0”和全“1”，就可以肯定该网络发生了输出开路或者输出呆滞。综上所述，组合矩阵能够对故障模型2的所有情况进行完备诊断，不会发生混迭症候、混淆症候和漏判问题。组合矩阵的PTV数量是2N，当网络数量比较大时会造成测试时间过长。因此对于大规模集成电路板的测试不宜直接采用这种算法。为了缩短测试时间，可以采用两步测试的方案：第一步用紧凑性比较好的测试矩阵进行初步测试，快速地找出可能存在问题的网络，缩小诊断测试的范围；第二步，采用组合矩阵，对存在故障的网络进行精确诊断。这样就可以又快又好地达到测试目的。第一步测试可以采用改良计数序列算法或等权值算法，其PTV数量级为log2N，是紧凑性最好的一类算法。用这类算法生成的测试矩阵可以发现所有可能存在问题的网络，但不能完全确定故障的位置和类型。

5 结 语
    电路板生产测试目的在于发现故障并进行维修。测试中对故障的漏判会造成反复维修，影响生产的效率，因此需要尽可能全面地发现故障。现以网络输入端和输出端的故障为参考点，引入了一端开路，一端短路的故障。基于这种故障模型的测试可以避免对输入端故障的漏判，从而减少反复维修。
    JTAG测试技术的应用还包括用BS器件测试非BS器件。因为BS器件之间的互连可能会经过一些非BS器件(电阻，功放等)，可以通过测试BS器件之间的互连来检查这些中继器件。这种测试实际上是假设网络互连模型的导线部分也可能发生故障。根据这种情况，本文提出的故障模型2可以进一步扩展，从而应用到 BS器件测试非BS器件的领域。