DigRF 3G支持数字传输下的三种时序模式，具体取决于被传输RF信息的类型（表1）。DigRF标准还支持三种公共的输入基准时钟频率（19.0 MHz、26.0 MHz和38.4 MHz）；时钟通过SysClk信号送至基带。与速度模式无关，DigRF处理器会用一个本地的FIFO缓冲管理数据流，当传输帧时会产生一个无法预测的时序。

　　生产测试的挑战

　　对采用DigRF协议器件作成功测试的关键是要找到一种方式，能在RF接收测试期间管控RxData包的不确定性状态。在对DigRF产品作RF接收测试期间，能观察到RxData信号合成状态的多级不确定性：

•相位时序；
•帧时序；
•帧类型；
•有效载荷中的数据。

　　312 Mbps的数据速率来自于一个1248 MHz主时钟（一般由PLL生成）的1/4分频器。在生产性测试系统中，考虑到影响RF前端的相位噪声性能的重要性，器件的时钟输入应由RF仪器提供。与普通数字子系统相比较，这个时钟源的起始相位通常是不可控的。DUT（待测设备）的输入时钟相位未定，PLL倍频器/分频器产生的相位也不确定，两者结合导致RxData输出时序无法预测，包括器件各上电循环之间，以及多地点并行测试配置中的不同器件之间的输出时序。

　　一种生产型测试仪应有这种能力，即在各次测试间对测试仪硬件和DUT作必要修改时，仍保持数字子系统的运行。它使测试仪能够维持相对于DUT输出的选通时序，避免在正式运行中的选通相位重调，节省了测试时间。
下一个重要的测试挑战是寻找一个能处理多级不确定性数据包传输性能的方式。如图3所示，在DUT的每个RF接收测试期间，测试仪都不知道每个包会在哪个测试循环中传输，包的类型会是什么，或者包的类型是否符合预期（例如，RFIC会生成一个主动的控制状态消息）。

图 3. 由于数据包的不确定性，在一款器件的每次RF接收测试期间，测试仪不知道每个包会在哪个测试循环中传输，包的类型是什么，或者包的类型是否符合预期。
 　　马上能看出，测试程序不能在数字测试模式中采用固定循环周期的选通隔离所需I/Q数据。同样，对同步或头的数字匹配回路不能以DigRF速度，足够快地通过ATE仪器的流水线，仪器也不能完成对头信息的实时识别和决策。

　　ATE策略的比较

　　传统生产测试系统有静态的选通时序以及简单的比较功能（例如H、L、X、M、V、存储），因此它们自身并不具备强大的校准能力，以应对DigRF器件需要的非确定性。不过，这类测试仪中的数字仪器有所需要的数字捕捉能力，一般用于ADC（模数转换器）输出数据或DUT寄存器读取操作。因此，你可以保留在这台仪器上的投资，并且采用一种批量捕捉和后处理技术（block-capture-and-post-processing）应对DigRF的RF接收测试挑战。

　　对于RF接收测试，一般CW（连续波）测试需要1kB至4kB的I/Q采样，而日益普遍的采用调制波形的系统级测试则使用16 kB至32 kB的I/Q采样。注意转换为实际的串行位：

　　1k I/Q = 1024 • [8 bits (I) + 8 bits (Q)] • 协议_开销 = 串行位数

　　为了解决实时情况下的非确定性行为，测试仪必须提供专为DigRF 3G DUT与数字捕捉之间编码的数字逻辑。其目标是在数据到达测试仪的DSP（数字信号处理器）前，减轻捕捉时所出现的所有时序与数据不确定性问题。
一种测试选择是在DIB（器件接口板）上设计一个FPGA（现场可编程门阵列）电路。这种方法可以用一片廉价器件提供定制逻辑，但也有三个麻烦：