测试仪所能采集到的反射脉冲在测试盲区外至少有2个,而有用的为前两个:一个是发射脉冲直接经接收电路得到,另一个是由线缆反射再经接收电路得到。若有其他脉冲则是由于脉冲的多次反射引起的。显然,脉冲在线缆中传播的时间为两个反射脉冲之间的时间差,这样就很容易避免电路所带来的系统误差,提高了测试精度。
当接收到回波产生的第1个脉冲下降沿后。计数器2开始计数,直到第2个下降沿到来,计数器停止计数,计数值锁存后通知单片机已完成,单片机分两次高8位和低8位读取计数器值。计数器2通过锁相环倍频得到更高的采集时钟,以减小因采集计数所带来的测试误差。以下是捕捉这2个下降沿时,输出一个脉冲的VHDL 进程:
此脉冲宽度即为信号在线缆中的传播时间。
3.1.3 脉冲发射接收模块
图3为脉冲发射接收框图。为防止因信号损耗过大导致回波幅值较小不易辨别,将 FPGA产生的脉冲通过放大电路放大到+50 V;为避免因测试点阻抗不平衡导致发射脉冲幅度减小,在放大电路与线缆之间加入高频脉冲隔离器,使电路与线缆更好耦合。信号放大电路与FPGA之间加入光电隔离,防止相互干扰,同时对FPGA起到电气隔离保护作用。在遇到断点后,脉冲原路返回,经耦合电路后再经放大处理,由光电耦合器6N137产生下降沿,传输至FPGA。该脉冲发射放大电路由高速光电耦合器6N137与小功率高速开关管3DK91C及升压电源器件构成。图4为脉冲发射放大电路。
当6N137同的信号输入端(引脚2)为高电平时,发光二极管点亮,反向偏置的光敏管导通,经电流电压转换送到与门,与门的引脚7为使能端,高电平有效。此时内部晶体管导通,输出引脚6为低电平,反之则为高电平。输出端产生脉冲后经高速开关管VQ(3DK91C),基极为高电平,开关管导通,集电极为低电平;反之则为+50 V。+50 V由升压电源器件产生。脉冲接收电路应采用高带宽的放大器,光电耦合器6N137作为放大器与FPGA的接口。