·上一文章:测试技术为40G/100G商用铺路
·下一文章:新型纳米级电接触电阻测量技术
3.5 EPON 系统的性能测试(见图4)
图4 性能测试拓扑图
测试目的:能够更好地隔离造成系统转发性能下降的原因。
测试方法:IxN2X可以在PON端口统计PON的流量,计算时延和包丢失。测试拓扑如图4所示。IxN2X 103/2和N2X 103/3是以太网端口,N2X 101/1是EPON接口,统计上行流量,IxN2X 101/2是EPON接口,统计下行流量。
●在103/2和103/3之间互相发双向业务流。
●分别在101/1和101/2端口统计上行和下行的流量。
●用户可以分别计算出通过 ONU 和OLT的延迟。
测试结果如图5所示。丢包也可以用同样的方法计算。
图5 ONU端和OLT端性能测试结果
从以上测试结果,我们可以计算出:
●OLT Downstream avg Latency="10".4us。
●ONU Upstream avg Latency="406".4us。
●OLT Upstream avg Latency="416".7-406.4=10.3us。
●ONU Downstream avg Latency="13".4-10.4=3us。
4 结束语
IXIA IxN2X在EPON测试领域一直处于领先地位,它提供了丰富的EPON测试功能,可以测试MPCP,OAM协议,可以测试DBA算法,可以测试EPON系统的转发性能,可以测试EPON系统的QoS保证能力等。根据EPON的传输特性,有效地测试EPON系统是必要的。