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光电跟踪检测调试仪的研制
来源:本站整理  作者:佚名  2011-05-27 07:47:59



2 检测调试仪设计

2.1 硬件设计

  如图2所示,单片机通过读取外来信号D0—D5,程序内部判断后对锁定机构进行加锁或解锁控制,控制信号通过SN54LS245驱动后,控制图3中继电器的吸合来控制电机工作。没有加解锁控制信号或到位信号输入时,继电器K1、K2、K3、K4都处于3、4和9、10导通状态;当信号控制时,继电器K1、K2、K3、K4处于4、5和8、9导通状态。

  

  下面以加锁为例来说明调试仪的工作过程。

  当信号D0-D5为10000时,单片机通过P10口对方位锁定机构发出加锁命令,控制命令经SN54LS245驱动后作用于R9和VQ1,VQ1导通后,继电器K2的4、5导通,输出+28 VLOCK信号控制电机进行加锁。完全锁定后,光电开关输出(上)信号输出高电平即图3中STOP+,STOP+通过上拉电阻R16作用于R10和VQ2,VQ2导通后,继电器K3的4、5和8、9导通,+28 V LOCK信号切断,硬件上先停止加锁控制,防止造成机构硬件损伤。而K3的8、9导通后,FWH+输出+5 V电平给单片机,单片机接收信号后,终止加锁命令,VQ1截止,K3恢复常态。解锁过程和加锁过程类似,在此不作赘述。

  

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