检修时先测会聚组件工作电压，正常；取下会聚组件，开机发现热机后行幅变化，判断故障在行输出电路与枕校电路中。查行输出电路中L319、c341、C342、VD309、C539、C437等元件（见图），发现C339（0.33μF／400V）容量不稳，代换后故障排除。注：光栅只要发生几何失真变化都可能导致会聚变。替换存储器改变了原有的几何失真参数数据会聚也会变。动偏转线圈同样会聚会变。但这一切都因为会聚电路自身会聚数据没有改变。只需通过调整相应几何参数和偏转位置，故障便能排除。