本系统采用QuartusIl8．1对系统进行仿真，由于系统深度较大，所以设定仿真时间为100 μs。系统刚上电时，双端口RAM中暂时没有数据，此时系统处于读空状态，empty变为高电平，full保持低电平，如图3所示。随着RAM中数据的不断写入，系统进入写满状态，此时full变为高电平，而empty变为低电平，如图4所示。

结 语
    本文根据异步FIFO设计的难点和要点，提出了具体的解决方案。在空／满标志位产生条件的判断上提出了“检测+计数器”的新思路，使系统设计方便实用，并采用格雷码方式降低了亚稳态出现的概率。通过验证，这种方法在有效判断空／满标志位方面有很大的优势。