首 页文档资料下载资料维修视频包年699元
请登录  |  免费注册
当前位置:精通维修下载 > 文档资料 > 家电技术 > 单元电路介绍 > 其它电路
一种新的晶圆级1/f噪声测量方法
来源:本站整理  作者:佚名  2009-08-27 10:47:42




为了分析栅氧电容相关性或进行其他进一步的研究,我们还测量了不同栅氧厚度下的1/f噪声。图4给出了不同栅氧厚度下的测试结果。


 
图4. 不同栅氧厚度下pMOS器件的1/f噪声测量数据
然后,我们就可以估算出1/f噪声参数,建立不同的模拟模型。图5给出了在一个p沟道MOSFET的强反型区中测得的漏极电流噪声功率。


 
图5. 漏极电流1/f噪声与栅极偏压的关系
5. 结束语
本文介绍了一种评测MOSFET 1/f噪声的晶圆级测量方法和配置方案。这种测量技术可以在晶圆上自动进行。由于这种配置方案能够测出低于100Hz的低频噪声分量,因此能够有效提取到MOSFET的1/f噪声。

上一页  [1] [2] [3]  下一页

关键词:

文章评论评论内容只代表网友观点,与本站立场无关!

   评论摘要(共 0 条,得分 0 分,平均 0 分)

推荐阅读

图文阅读

热门阅读

Copyright © 2007-2017 down.gzweix.Com. All Rights Reserved .
页面执行时间:8,914.06300 毫秒