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3 状态设计及系统状态分析
3.1 状态设计理论
状态设计是指根据被测对象的运动规律确定存储测试系统状态组织结构的过程。它是实现功能设计的关键环节,是硬件设计的依据,也是建立基型存储测试系统的有效手段。状态设计可以使设计思想始终清晰地贯穿于设计和调试,不同程度地简化原本复杂的设计过程。
3.2 系统的状态分析
根据状态分析,存储测试系统完成一次有效的数据测试,大致需经6个过程:等待状态A0,低速采存状态A1,高速采存状态A2,低速采存状态A3,信息保持状态A4,数据读出状态A5。MSP430F1611通过控制ONA、ONB分别产生VDD= 3.6 V、VEE=3.6 V,OE、WE、CE分别为存储器的读、写、片选控制信号。ONA信号为低电平时输出VDD,为高电平时关闭。ONB为低电平时输出VEE,为高电平时关闭。图3为系统状态转换图,详细分析系统各工作阶段的电源开闭情况及低功耗模式。
等待状态A0对系统进行初始化,复位操作。其中,在I/O初始化中,设置上电外部中断,当ONA、ONB为OE、WE、CE为低,电源VDD、VEE关闭,初始化通用寄存器,将内部DCO晶振8分频,初始化定时器A,通过TA中断延时50 s.等待电源稳定后进入低功耗1。