评价存储器的一个重要指标就是它的可靠性，在一般的数据存储中，几个位的错误可能不是很关键的问题，如果但是发生在某个敏感的数据上，这个小小的故障可能会导致严重的后果。因此，必须采取一些措施来及时检出并纠正出错的数据。目前常用的方法有：奇偶校验、CRC校验、重复码校验等。
    ECC校验是在奇偶校验的基础上发展而来的，它将数据块看作一个矩阵，利用矩阵的行、列奇偶信息生成ECC校验码。它能够检测并纠正单比特错误和检测双比特错误，但对双比特以上的错误不能保证检测。它克服了传统奇偶校验只能检出奇数位出错、校验码冗长、不能纠错的局限性。文中在高速大容量固态存储器的硬件结构基础上，详细介绍了ECC校验码的生成规则以及ECC校验流程，并用C语言和VHDL语言两种方法实现了该算法。

1 存储器的硬件结构及芯片介绍
    本存储器是以FPGA为控制核心，用64片Flash芯片构成存储阵列，采用CPCI接口实现数据的高速率存储。Flash存储阵列分为16组，每组4片，每组Flash芯片共用数据和控制总线。该存储器的硬件结构图，如图1所示。

    存储板上的存储芯片用的是Samsung公司的高速大容量固态存储芯片K9W8G08U1 M Nand Flash Memory，其容量为1 G×8 bit，分为8 192个块，每个块又分为64页，1页有(2 k+64)Byte，其中一页有64 bit的空闲区。存储板上的控制芯片是Ahera公司的高端FPGA芯片EP3SE110F1152C4，它负责数据的缓冲和整个存储器的时序控制，并负责以页为单位生成校验码，并把校验码存人到页的空闲区内。下面以1页2 048 bit为单位介绍校验码的生成以及校验流程。

2 EGG算法分析及校验流程
2．1 EGG校验码生成规则
    Flash在读写数据的时候是以页为单位进行的，一页有2 048个数据，所以可以以2 048 bit为单位生成校验码。每个数据有8位信息组成，可以把这2 048个数据看成2 048×8的矩阵，这样就可以分别生成行校验码和列校验码来分别校验。ECC校验中，每2 048个数据生成4个字节的校验码，这32位的校验码分成3个部分：6位的列校验信息，22位的行校验信息，其余的4位置1，ECC校验码组成，如表1所示。

    其中P4_l，P4_2，P2_1，P2_2，P1_1，P1_2是列校验码，而P8_1，P8_2，P16_1，P16_2，P32_1，P32_2，P64_1，P64_2，P128_1，P128_2，P256_1，P256_2， P512_1，P512_2，P1024_1，P1 024_2， P2 048_1， P2 048_2， P4 096_1，P4096_2，P8192_1，P8192_2是行校验码。行列校验码生成表，如表2所示。