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选择硬件在环(HIL)测试系统I/O接口
来源:本站整理  作者:佚名  2010-06-20 10:31:18




仪器级I/O
NI模块化仪器在模块化尺寸中提供了仪器级测量和信号发生,您可以集成到硬件在环测试系统中。从一系列数字万用表(DMM)、示波器、信号发生器和射频仪器中进行选择,然后在软件中进行配置满足您特定测试系统的任务需求。
 
图像采集
NI智能相机家族提供了VGA(640×480象素)和SXGA(1280×1024象素)解析度,使用它可以将图像分析添加到硬件在环测试系统中 验证仪器面板显示或执行器响应。通过在板载PowerPC和数字信号处理(DSP)协处理器上直接处理图像,能够确保对硬件在环测试系统产生最小的影响。
 
运动控制
NI提供了一系列运动控制解决方案,其中包括包含完整功能的高性能控制器,可用于最复杂的需求和低成本运动控制器,满足点对点运动控制应用的需求。NI运动控制产品提供了高级功能,帮助您有效实现例如精确定位、多轴同步和以已定义的速度、加速度或减速度运动等通用任务。
 
第三方硬件支持
使用PXI多厂商标准提供了来自70多个厂商的超过1200种产品,确保NI硬件在环平台始终满足您的硬件在环应用需求。
 
总结
如果您希望在硬件在环测试系统中实现硬件故障插入,请了解NI硬件在环平台上的可用选择。
要完成您的硬件在环测试系统,了解用于硬件在环测试系统实现的软件技术,包括测试自动化、需求管理、建模、分析以及报告,请阅读开发硬件在环(HIL)测试系统应用。
 
访问http://www.ni.com/hil/zhs寻找更多帮助您进行硬件在环测试系统开发的资源,或是了解其他人如何使用NI硬件在环平台获得成功。

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