选择硬件在环（HIL）测试系统I/O接口

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来源：本站整理作者：佚名 2010-06-20 10:31:18

确定性分布式I/O

NI提供了全新的确定性分布式I/O产品，帮助您创建基于I/O的分布式硬件在环测试系统，降低布线成本和复杂性。从一系列I/O模块中进行选择，创建分布式I/O接口通过确定性的以太网与您的实时处理器进行通信。

总线接口
许多ECU使用通信总线接口与系统中的其他设备共享信息。NI提供了多种军事/航天、汽车和工业总线接口，您还可以使用基于NI FPGA的I/O接口为您的硬件在环测试系统实现定制协议。
NI AIM PXI模块的选择包含MIL-STD-1553、ARINC 429以及AFDX接口。每个模块都带有板载应用程序支持的处理器、丰富的板载内存和IRIG-B时间代码生成器/解码器，满足硬件在环测试系统的需求。基于PXI的模块能够使用PXI背板提供的高级定时与同步功能。