选择硬件在环（HIL）测试系统I/O接口
概览
高性能模块化的I/O接口是构建成功硬件在环测试系统所必须的。硬件在环（HIL）测试系统体系结构教程讨论了多种硬件在环测试系统体系结构和用于实现的实时处理技术。本教程讨论了多种I/O接口选项，能够用于实时处理器创建您的硬件在环测试系统。
 
多功能I/O
硬件在环测试系统需要多种模拟、数字和计数器/定时器接口与被测电子控制单元（ECU）进行交互。NI多功能数字采集产品将所有功能集成在单个设备 中，为硬件在环测试系统I/O接口提供了高价值的选择。高性能模拟数字和数字模拟转换器结合了用于计数器/定时器功能和与实时处理器之间进行低延时数据传 输的板载处理能力，让这些接口成为硬件在环测试系统应用的理想选择。
 
基于FPGA的I/O
基于NI现场可编程门阵列（FPGA）的I/O将模拟I/O以及数字I/O与FPGA整合在单个仪器中。这些设备使用NI可重复配置I /O（RIO）FPGA技术，它提供了用于可编程的FPGA功能，可以用于创建定制I/O功能并减少实时处理器进行模型执行和信号处理的负荷，从而提高硬 件在环测试系统的性能。使用NI LabVIEW FPGA模块，您可以定义您自己的硬件特性，而无需具备硬件描述语言的深入知识。
 

[1] [2] [3]  下一页