该试验装置适用于电容量O.OlμF~lOμF．试验电压O~lOOOVDC可调；一批试验10只；充放电次数达10万次。

　　电路原理（见下图）
　　
　　(1)可调直流高压电源AC220V市电，经Tl调压、12升压、UI整流、Cl滤波，形成所需的试验直流电压，经可调节充电限流电阻加至充电无触点开关可控硅VTI—VTIO。

　　(2)可调充放电电阻按被试电容容量规格等级计算确定阻值，由镀银长滑道滑臂式调节机构任意调置。各挡电阻必须是无感的纯电阻，否则将对充放电尤其是放电特性产生严重影响，而达不到试验要求。所以，阻值大干510Ω的采用3W无感实心电阻，小于此阻值的用φ0.1—0.2mm的凄包丝包康铜丝绕制成电感很小的板式线绕电阻，且分成绕向相反的两段（如右图所示），两段的电感互相抵消使电感降至最小。

　　(3)充放电电路VT1_VT10为充电无触点开关；VT11—VI20为放电无触点开关；CrI—Crl0为被试电容器；Rfl—Rf5为放电限流电阻。

　　T3~T12为触发脉冲变压器（铁氧体芯）．其副边的一组触发前一路充电可控硅：另一组触发后一路的放电可控硅，这样，一路在充电时，另一路放电，互相共用一路触发电路（总共少用了10路）。充电或放电完毕，可控硅均会自动关断。触发信号由ICl(4011)四与非构成振荡器，由IC2(4017)十进计数器构成时序触发电路，经VT21—VT30激励T4-T13输出触发脉冲。

　　(4)试验次数累计计数计数器采用5位电磁计数器，每一路的充电电流，经各路Ra取样后经IC7~IC16光耦输出，经C7—C16触发由IC4~IC6(LM324x3)中的运放构成的单稳态电路，最后由VT31—VT40驱动计数器AEI_AElO计数。