漏电保护器是一种用于电气电路中的电气自动安全开关，有电磁式和电子式两种结构，并有单相和三相之分。

    家用单相漏电保护器一般采用零序电流型，属于电子式结构的一种自动开关，主要由自行脱扣器、零序电流互感器、电子触发器等三大部分组成，其常见故障主要有以下三种：一是意外漏电时保护器不能自行脱扣，二是一旦脱扣后无法合上即产生滑扣，三是保护器内发出“吱吱”响声。下面分别进行介绍。

    故障现象1：不能自动脱扣。
    分析检修：不能自动脱扣可分为两种情况：一是按动保护器面板上的试验按钮后漏电保护器不动作，二是电路中出现触电或漏电现象后，漏电保护器不动作。

    该故障原因主要有试验按钮接触不良，试验电阻已断路或短路，电磁脱扣线圈开路，脱扣磁铁与衔铁之间间隙太大，造成脱扣机构吸力不足。另外，零序电流互感器次级线圈开路，桥堆整流器及可控硅损坏也会出现此故障。

    为正确判断不脱扣的故障点，可以先给漏电保护器制造一个约100mA的人为漏电电流来检测，其测试的方法很简单：将一只25W的白炽灯泡一端接在漏电保护器220V进线的相线上，灯泡的另一端则接至漏电保护器负载输出的任一端，通电后灯泡亮，若此时保护器迅速动作并断开，说明其故障点应在试验回路中，否则故障点在检测回路和脱扣回路中。

    试验回路电路常见故障有：1．试验按钮接触不良，其按钮触点锈蚀氧化或烧结粘连，或者触点位置已偏移。2．试验电阻断路或者电阻阻值变大，其正常电阻值应在3kΩ-6kΩ之间。3．电磁脱扣线圈开路或短路。脱扣线圈漆包线线经一般为0.17mm，在骨架上密绕的匝数应在1200匝左右，其正常直流电阻约为20Ω-35Ω。

    检测回路和脱扣回路电路常见故障有：1．电磁脱扣器电磁铁与衔铁之间的间隙过大，从而造成吸力不足而无法脱扣，这时可用尖嘴钳夹住衔铁稍向里面弯曲些，以适当缩小彼比间的吸合间隙。2．触发单向可控硅击穿，造成电磁脱扣线圈短路。3．在桥堆整流器电路中，某整流管被击穿或降压电阻烧毁。4.零序电流互感器次级线圈开路或短路，该次级线圈线径约为0.1rnm -0.15rnm，匝数约400匝。

故障现象2：产生滑扣，即手柄合不上。

    分析检修：手柄无法正常合上可分为两种情况：一是断开AC220V输入电压后，保护器手柄则无法正常合上，其故障原因应是手柄的机械跳扣产生变形移位，可用尖嘴钳夹住跳扣前端，轻轻朝前弯曲并进行适当调整其前后左右位置，直到推入其手柄时跳扣能自由进入触点锁口。二是在正常供电的情况下，手柄则无法推入合闸，其故障原因，一是试验按钮电触点因氧化烧蚀后而产生粘结，可采用细砂纸打磨触点上下表面，并重新调整触点的正常弹性压力，二是单向可控硅击穿或电磁脱扣线圈损坏。

    如果排除上述故障原因后，在正常供电下仍出现滑扣现象，那肯定是用户室内的供电线路及用电电器设备有漏电现象，检测的方法是依次断开输出线路或用电设备，以查找故障原因。

故障现象3：漏电保护器内发出“咬咬”的响声。

    分析检修、漏电保护器串接在供电电源和用电电器之间，正常工作是不会发出任何异响的。该故障的原因一是电源输入端及负载输出的接线柱接触不良，或固定螺丝松动；二是手柄跳扣与左右二个动触点间接触不良。上述接触不良现象轻微时，会发出“吱吱”的电流响声，严重时会出现电火花。检修时先用细砂纸擦去接触处的氧化物，并用尖嘴钳适当调整触点间隙和弹性压力，使触点间可靠接触即可。

什么是BiCMOS

BiCMOS是继CMOS后的新一代高性能VLSI工艺CMOS以低功耗、高密度成为上世纪80年代VLSI的主流工艺一随着厚度的逐步缩小，电路性能不断得到提高，但是当厚度降到1 μm以下时，由于载流子速度饱和等原因，它的潜力受到很大的限制把CMOS和Bipolar集成在同一芯片上，发挥各自的优势，克服缺点，可以使电路达到高速度、低功耗BICMOS工艺一般以CMOS工艺为基础，增加少量的工艺步骤而成BiCMOS(Bipolar CMOS)是CMOS和双极器件同时集成在同一块芯片上的技术，其基本思想是以CMOS器件为主要单元电路，而在要求驱动大电容负载之处加入双极器件或电路因此BICMOS电路既具有CMOS电路高集成度、低功耗的优点，又获得了双极电路高速、强电流驱动能力的优势。