利用t6577+ ddr2 i/f option module可以实现对ddr2 i/f dq和dqs管脚上信号的测试。图6和图7显示出了在不同的数据输入/输出周期t6577可以完成的测试项目和完成ddr2功能测试提供的测试条件。

 
结论

通过上述介绍可以看出t6577 + ddr2 i/f option module完全可以满足高速ddr2 i/f的高速高精度测试要求，实现了低成本的ddr2 i/f的测试。t6577作为通用soc测试系统，可以满足各种soc,asic,rf/mixed芯片的测试要求，完成各种类型芯片的高速高精测试。