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在存储测试开始之前，通过软件编程将采集存储过程分为几个阶段，根据被测信号的变化，每一个阶段的采样频率、存储点数、采样开始时间会作自适应的调整。首先接通电源使电路处于复位态，此时数字电源VDD为通电、模拟电源VEE为断电状态，系统中只有FPGA控制模块工作；然后对电路编程设定各个环境的采样频率，给电路上电，电路进入等待触发态，此时VDD、VEE通电，存储器、AD转换器启动，开始采样，地址计数器开始工作；触发信号TRI1到来后，进入f1采样态，系统按编程设定的采样频率f1开始采样，负延迟计数器开始工作；2环境触发后，系统按照设定的采样频率f2进行采样，此时处于f2采样态；3环境触发后，系统按采样频率f3采样，处于f3采样态；当负延迟计数器计满设定值时，地址计数器和负延迟计数器均停止工作，VEE断电，系统进入等待读出态；在读出数据态，地址同步推进，直到读完所有的数据。
2．2 变频采样的模块设计
采样频率决定了采样信号的质量和数量，采样频率太高，会使采得的信号数量剧增，占用大量的存储单元，采样频率太低的话，会使模拟信号的某些信息丢失，恢复出的信号会出现失真。为了达到最佳效果，必须根据信号的特点选择合适的采样频率。图3为设计的采样时钟选择模块。
