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新型彩电的行频预激励信号多采用32fH压控振荡（32fH.VCD）分频而得，其中的503kHz晶振是关键元件。该晶振一旦漏电，可能导致停振、启动困难、行激励不足、行保护动作、屡烧行管等故障，检修中需特别注意。
可消除漏电。其机理是：受潮后晶片表面陶瓷微粒在外加直流电力场的作用下“爬电”形成一些微小的“短路桥”（放大镜下可见其黑细纹，从而导致其边缘漏电。刮去晶片边缘的表层，也就是清除了“短路桥”漏电得以消除。必须指出，只要晶振两端存在直流电位差，再次受潮的晶片仍可能“爬电”。换名话说，如此处理的晶振虽可应急使用，但存在隐患，可靠性不高），本地的夏季高温潮湿。采用上法修理的机子返修率较高。为根治晶振漏电，先密封晶振以防潮，再在晶振上加串10nF/63V聚酯电容以隔离直流电压，经此改进，再无返修。10nF电容在500kHz时的等效阻抗仅为32Ω，基本上不会影响到谐振频率。
产品机中也有在500kHz晶振上串电容者，例如佳丽EC2505型彩电即是。检修中发现，该机的此晶振即使轻微漏电也可正常工作（晶振用R×10k挡测量时指针偏转一半，相当于耐压为7V），这为串电容提高可靠性提供了佐证。
受此启发，还挽救了一批频率合格而耐压不够的晶振，以往的经验是要求晶振的耐压至少要在15V以上（万用表R×10k挡测量时基本看不出漏电），现在的试验中，只要晶振的耐压高于10V（万用表R×10k挡测量时指针偏转小于1/3者，将其加串10nF电容后再接入电路，可安全使用。
有鉴于此，检修或换用行振荡500kHz晶振时最好加串一只10nF电容，以提高其可靠性。
