摘要:为探索电容器存在连接组件过热的根本原因,通过建立接触不良物理模型,分别从接触电阻变化和放电两方面进行试验研究,并且比较了不同类型负载的影响。研究结果表明:接触电阻随接触间隙的增大先线性增加,后呈指数形式增加;在同等条件下,容性电路的放电次数更多,接触放电所产生的温升较正常接触高得多。
0 引言
电容器作为重要的无功补偿装置,不仅能实时补偿电网中的无功损耗,还能提高电网的负载能力和供电质量。但电容器普遍存在连接组件过热的情况,影响电容器组的安全运行,严重时会烧损电容器,影响电网无功平衡及稳定运行。近年来针对此问题,相关学者结合现场大量的发热缺陷进行统计,发现发热的主要原因有:材料接触表面存在电化学反应、物理效应,导致接触电阻增大;接头接触表面面积不够,接触表面压力不足,产生放电现象。但并未以试验的方式探究发热的根本原因。本文主要从接触电阻变化和接触不良放电两个方面进行试验研究,同时考虑不同电路环境对接头的影响,探究电容器连接件发热的一般机理,为电容器及连接组件过热的研究提供依据。
1 电容器连接件发热分析
电容器连接件的发热一直是待解决的问题。一般情况下,接头处于正常接触状态,此时接触电阻较小,由电流的热效应公式W I2RT,连接处发热量并不是很大。
而在实际运行过程中,一方面可能由于质量问题引线与接头表面粗糙,造成接头处接触电阻比正常时增大,导致较大发热。另一方面可能由于接触头的两极长期处在白然环境中,在雨水等大然电解液的作用下,使接触表面逐渐腐蚀,引起接触电阻增大而发热。同时,还可能由于材料的固有属性不同,使热膨胀系数不同,表面粗糙不同,或是压力不同产生微小的形变,从而引起接触电阻变大,导致发热。
而当接触表面过于松动或腐蚀太过严重时,接触表面会产生微弱的间隙,如果间隙内的电场达到一定程度,将发生接触不良放电现象。而放电产生大量的热,使得连接处有较大的发热。
综上分析,本文选择从接触电阻变化和放电两个方面进行试验,并利用红外测温仪测量温度变化,分析其对发热的影响。
2 试验设备及方法
2.1试验设备
为研究连接件发热现象,自制了调微间隙装置来模拟连接件的接触情况,装置包括直进式螺旋测微仪、可更换柱形平头等。通过测量间隙两端的电压U、电流I、温升△T以及放电的N-Q- φ参量,得到参数的不同特征,分析电容器连接件的发热机理。使用的试验装置有:调压变压器、数字示波器、微弱信号检测、红外测温仪、钳形电流表、可更换接头的微调间隙装置等,设备具体参数如表1所示。
2.2试验方法
试验中采用220V交流电压,通过改变及调节负载大小保证电流相同,调微装置采用柱形平头模拟电极的面面接触,保持接触面的干燥、清洁。使用数字示波器观察间隙两端电压波形的变化,示波器采用边沿触发,全文件记录采集的数据。并使用局部放电仪对电极两端的放电情况进行检测,其中检波阻抗和局部放电检测仪一起安全接地,如图1所示。
通过旋转螺旋测微器的滚花筒模拟电极之间微间隙的产生,调节微调间隙的大小,并以棘轮测力保证初始接触时的相同压力,记为初始零位。调节调压器至电压为220V,慢慢增加间隙间距(每次0. 001 mm)至电路断开,通过测量相应间隙的电压、电流,利用公式R=U/I计算出接触电阻,同时检测电极两端电压波形以及放电情况,利用红外测温仪实时监测接触面的温度,探究间隙增大过程中的接触电阻变化、放电情况以及温升变化。
3 试验结果
3. 1接触电阻变化规律
试验中采用铜材料的面面接触方式,在220V电压、5.51A电流的试验条件下,通过等间距增加间隙距离,测量各间隙所对应的电压、电流,利用R=U/I计算接触电阻,并用MATLAB拟合得到接触电阻随间隙增大的变化曲线,如图2所示。
由图2可以看出,在接触间隙增大的初期,接触电阻的变化很小,基本保持不变,保持在6.21 m。左右,分析原因可能是由于初始接触时接触压力作用较大,接头仍属于正常接触状态;此后,接触电阻有一定的上升趋势,分析原因可能是接触面之间开始产生微小间隙导致接触不良,接触电阻增大;而随着间隙的不断增大,接触电阻增加的速度也越快,分析原因可能是间隙越大,接触面接触越不充分,接触不良越严重,接触电阻越来越大。
可以看出,在正常接触范围内,接触电阻随间隙增大变化缓慢,而间隙增大到一定程度时接触电阻随间隙的增大呈指数增长。
3.2局部放电规律
保持电压220V电压不变,增大间隙至一定距离后,局部放电仪检测到接触面开始出现局部放电现象,同时观察到示波器电压波形开始畸变。此时,局部放电检测仪记录1min放电波形,并得到放电图谱。更换相同类型的接触头,并更换不同类型负载调节滑动变阻器使每次试验电流相同,重复以上操作,分别得到三种不同类型负载的放电相位一放电次数图谱,如图3所示。
由图3a)可以看出阻性负载产生接触不良放电时,放电次数较多的区域集中在60、120、240、300°相位附近,最大放电次数能达到300多次,并且仅在120°相位时达到,而其他相位区域放电次数普遍较少,最少的只有几十次。由图3b)可以看出阻容性负载产生接触不良放电时,放电次数较多的区域集中在0、120、180、310°相位附近,最大放电次数能达到600多次,并且仅在310°相位达到,而其他相位放电次数普遍介于100~450次之间。从放电总次数来说,阻容性负载的放电次数比阻性电路多。由图3 c)可以看出容性负载产生接触不良放电时,放电次数较多的区域集中在70、120、250、310°相位附近,最大放电次数能达到1050次,仅在120°相位达到,其他相位放电次数普遍介于250~750次之间,从放电总次数来说,容性负载的放电次数最多。