实现电路如图3，使用一个I/O口对PCB构成的电容充电，另一个I/O口测量电压，对于多个按键时使用同一个I/O口充电。R1通常为几百K到几M，人体与PCB构成的电极电容一般只有几个pF，R2用于降低噪声干扰，通常为10K。

　二、充电时间测量方法
　　对充电时间的测量可以使用MCU中定时器的捕捉功能，对于多个按键一般MCU没有足够的定时器为每个按键分配一个，也可以使用软件计时的方法，这要求能对MCU的时钟精确计数，并且保证每个周期的时钟个数保持一定。这种情况通常要求对按键使用一个独立的MCU，以保证不被其他任务中断。

　　为了提高系统的可靠性和稳定性，改进的测量方法是对Vout进行高和低两个门限进行测量。如图4所示，通过对t1和t2的测量，从而达到更可靠的效果。另外，多次测量也是有效的降低高频干扰的有效方法。

　　实际应用中可以使用数字信号的方式直接测量t1和t2，因为数字信号的‘1’和‘0’也都有最高与最低输入门限。使用软件查询方式测量，通过固定频率检测输入脚，其中‘0’的个数就是t1，‘1’的个数就是t2，实际上就是输入信号上升到VIHmin和下降到VILmax的时间

　三、PCB设计注意事项
　　不论是单按键、多按键、滑条、滚轮设计，还是混合应用，都可以使用一个I/O进行充电，即可减少资源应用，又可以因使用同一定时标准从而简化软件设计。

上一页  [1] [2] [3]