GSM手机的随处可见正导致不需要的RF信号的持续增加，如果电子电路没有足够的RF抑制能力，这些RF信号会导致电路产生的结果失真。为了确保电子电路可靠工作，对于电子电路RF抑制能力的测量已经成为产品设计必不可少的一个环节。本文介绍了一种通用的RF抑制能力测量技术－RF电波暗室测量装置，描述了它的组成和操作方式，并给出了实际测量结果的例子。

现在大多数蜂窝电话采用的无线技术是时分多址(TDMA)，这种复用技术以217Hz的频率对高频载波进行通/断脉冲调制。容易受到RF干扰的IC会对该载波信号进行解调，再生出217Hz及其谐波成分的信号。由于这些频谱成分的绝大多数都落入音频范围，因此它们会产生不想要的听得见的“嗡嗡”声。由此可见，RF抑制能力较差的电路会对蜂窝电话的RF信号解调，并会产生不希望听到的低频噪音。为了测量产品的质量，测试时需要把电路放在RF环境中测量，该RF环境要与正常操作时电路遇到的环境相当。

本文描述了一种通用的集成电路RF噪声抑制能力测量技术。RF抑制能力测试将电路板置于可控制的RF信号电平下，该RF电平代表电路工作时可能受到的干扰强度。这样就产生了一个标准化、结构化的测试方法，使用这种方法能够得到在质量分析中可重复的有用结果。这样的测试结果有助于IC选型，从而获得最能够抵抗RF噪声的电路。

可以将被测件(DUT)靠近正在工作的蜂窝电话，以测试其RF敏感度，但是，为了得到一个精确的、具有可重复性的试验结果，需要采用一个固定的测量方法，在可重复的RF场内测试DUT。解决方案是采用RF测试电波暗室，提供一个可精确控制的RF场，其相当于典型移动电话所产生的RF场。

下面，我们对Maxim的一款双运放(MAX4232)和一款竞争产品(X)进行RF抑制能力比较测试。


图1：双运放的RF噪声抑制能力测量电路(online)

RF抑制测试电路(图1)给出了连到待测双运放的电路板连接，每个运算放大器被配置成交流放大器，没有交流输入时，输出设置在1.5V直流电平(VCC = 3V)。反相输入通过1.5"环线(模拟输入端的PC引线)短路至地，该环路用来模拟实际引线的的效应，实际引线在工作频率下会作为天线，收集和解调RF信号。通过在输出端连接一个电压表，测量和量化运算放大器的RF噪声抑制能力。



图2：RF噪声抑制能力测量装置

Maxim的RF测试装置(图2)产生RF抑制能力测试所需的RF场，测试电波暗室具有一个屏蔽室，作用与法拉第腔的屏蔽室类似，它具有连接电源和输出监视器的端口。把下面列举的设备连接起来就可以组成测试装置：

1. 信号发生器:9kHz至3.3GHz(罗德与施瓦茨公司SML-03)

2. RF功率放大器(PA):800MHz至1GHz, 20W(OPHIR 5124)

3. 功率计:25MHz至1GHz(罗德与施瓦茨公司)

4. 平行线单元(电波暗室)

5. 场强检测仪

6. 计算机

7. 电压表

信号发生器产生所需要频率的RF调制信号，并将其馈送到功率放大器，通过一个与功率计连接的定向耦合器测量并监视PA输出。计算机通过控制信号发生器输出的频率范围、调制类型、调制百分比、功放的功率输出，建立所需要的RF场。电场通过天线(平面型)在屏蔽电波暗室内辐射，经过精确校准，产生均匀的、一致的、可重复的电场。

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