来源：本站整理 作者：佚名 2024-12-18 09:05:39
-更换V相上桥驱动芯片，运行42分钟，硬件监测FLT电平没有拉低，一切正常，未报故障。
-将不良芯片换回V相上桥，运行10分钟，硬件监测FLT故障电平拉低，控制器报故障。
-对芯片进行全功能测试，其中外观、IV、Bench测试均Pass，干扰测试发现芯片抗干扰能力较弱。
故障机理：在高压系统下会产生一部分干扰信号噪声耦合到驱动芯片中。有极个别芯片对干扰信号的抗扰度低，芯片Fault引脚会出现短时低电平；短时低电平被软件判断为desat（退饱和）故障，主动关管。
结果：上报整车亮故障灯，动力丢失熄火。重新上电才能恢复。
短时低电平也会触发硬件锁止电路的瞬时停机保护，主动关管。
结果：瞬时丢失动力。
-针对芯片抗干扰能力弱FTA分析：
目前初步判断3个可能原因（清洁度、空洞、打线脱线），原因锁定待故障芯片。
-部分芯片抗干扰信号能力弱，在高压系统下，芯片Faule引脚会出现短时低电平，短时低电平被软件判断为desat（退饱和）故障，主动关管，整车系统上报整车亮故障灯，最终动力丢失熄火。
整车真实退饱和故障机理说明：
-硬件IGBT驱动芯片检测IGBT饱和电压，当发生深度短路时，IGBT饱和电压上升导致DESAT脚电压超过阈值，触发驱动芯片保护功能，驱动芯片反馈故障FLT信号到单片机，软件执行报码及停机操作。
对策：
-软件刷写；刷写4015版本软件。
软件优化策略：故障持续5ms检出，单次故障确认，单次故障确认后停机保护100ms在线恢复，一个驾驶周期若故障确认10次，则故障锁死需下电恢复。
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