来源：本站整理 作者：佚名 2024-12-26 09:10:35
6、更换MCU，做ABA验证。
初步故障分析结论：
芯片U1- BAT32G137的P30端口无法维持高电平，导致LIN通讯丢失，外置驱动功能失效。
最终分析：
故障件故障复现后：
1、用仿真器读取芯片P30寄存器,读取值为0，说明目前软件运行的状态就是要输出低电平；
2、程序处于运行状态，输入暂停程序指令，执行单步运行程序，程序卡在015FB8地址；
3、通过程序仿真找到015FB8地址对应的代码，代码为while（1），程序运行在此状态，说明if（user -app==1）条件成立；
4、user -app的值是从SRAM中读取的不定值，目前我们使用的8位长度值（0-255）；
5、且if（user -app==1）程序中没有复位程序。
MCU上电后，MCU会给SRAM随机赋值，当赋值为1时软件程序卡滞，造成功能失效。
优化对策版本：
1、SRAM中读取的不定值：将8位长度值改为32为长度值，且值由1改为55AA1234，降低随机出现定义值的概率；
2、在if（user -app==55AA1234）中增加复位程序：当条件偶发成立进入此程序后，可以复位重新给user -app赋值为0。
改善对策：
措施
1、SRAM中读取的不定值：将8位长度值改为32为长度值，且值由1改为55AA1234，降低随机出现定义值的概率；
2、在if（user -app==55AA1234）中增加复位程序：当条件偶发成立进入此程序后，可以复位重新给user -app赋值为0。
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